【OPEN TECH Symposium　 International Symposium on Reliability
～電子機器・集積回路の信頼性に関する国際シンポジウムのご案内～】

■ 開催日時：2018年3月19日（月）13：00～17：50
■ 開催場所：京都工芸繊維大学　60周年記念館（アクセス）
■ 概　　要：本学グリーンイノベーションセンター主催により、ソフトエラーなどの一時故障、BTIなどの経年
　　　　 　　劣化など電子機器や集積回路の信頼性に関する国際シンポジウム開催を開催いたします。
　　　　　 　CiscoのCharles Slayman氏は、元SunMicrosystemsの技術者でソフトエラー測定法の国際標準で
　　　　　　 あるJESD 89Aを89Bに改定するWGのマネージメントを担う著名な研究者でソフトエラーに関する
　　　　　　 キーノート講演をいただきます。 キーノートと招待講演者は下記の５名を予定しております。
　　　　　　 （協賛：IEEE SSCS Kansai Chapter、 IEEE SSCS Japan Chapter、学振165委員会）

■ キーノート
Dr. Charles Slayman (Cisco Systems)
　　 数ナノメータ時代のセキュリティーと信頼性の相互作用

■ 招待講演
1. Prof. Chris Kim(ミネソタ大学 教授)
　　 集積回路の劣化を正確に見積もることのできるSilicon Odometerの歴史について
2. Dr. Frank Schlaphof (グローバルファウンドリ)
　　 SRAMのソフトエラー率の測定法
3. Dr. Souhir Mhira (Dr. Vincent Huardの代理発表) (STマイクロ)
　　 経年劣化等の長期信頼性関連（予定）
4. Prof. Jinshun Bi (中国科学院微電子研究所)
　　 フラッシュメモリなどのNVMの信頼性と放射線効果

※　講演は英語で行います。　ポスター

■ お申込み
どなたでも参加いただけますが、事前登録をお願い致します。詳細と登録は
http://www-vlsi.es.kit.ac.jp/SERconf/intconf2018/
(http://officepolaris.co.jp/INTCONF/index.htmlにリダイレクトします) よりお願い致します。